全新SNA5000X-E系列矢量网络分析仪具备9 kHz至26.5 GHz的测量范围、117 dB动态范围及智能化操作体验，支持S参数测量、差分（平衡）测量、接收机测量、时域分析、TDR、带宽分析、阻抗转换、端口匹配、去嵌功能、频谱分析功能等，起价仅为39880元，为研发团队、教育实验室及生产线提供高的测试工具，助力客户高效完成射频器件验证与常规高频测试任务。

1、宽频段高动态范围，满足精密器件测试需求

      SNA5000X-E支持9 kHz~26.5 GHz连续频率扫描，其动态范围可达117 dB，结合0.05 dB幅度分辨率与1 Hz频率分辨率，能*捕捉微弱信号，满足高Q值滤波器等精密器件的严苛测试需求。

2、多维度功能集成，应对多元行业挑战

      SNA5000X-E矢量网络分析仪通过集成多项实用功能，帮助用户高效应对不同行业的测试挑战。

(1）便捷地消除夹具效应

      在微波射频测试中，夹具引入的误差往往会影响测量精度。SNA5000X-E可通过多项功能系统性解决夹具误差难题：

      --端口延伸：当被测器件距离较远或需通过线缆连接时，输入线缆参数（如长度、损耗），即可将测量参考点延伸至目标位置，自动补偿线缆带来的延迟与损耗误差。

      --去嵌入功能：通过导入夹具的电气模型（S参数），从测量结果中反向剥离夹具的插损、反射等影响，直接呈现被测器件的真实性能。

      --阻抗转换与匹配：支持端口阻抗灵活调整，适配不同接口标准的夹具，进一步减少阻抗失配带来的干扰。

这些功能可覆盖远程测试、复杂夹具校准等多种场景，确保测量数据真实可靠。

(2）时域分析功能

      随着数字系统信号处理速度的提升，在时域和频域内快速、准确测量和分析互连器件性能，已成为保障系统性能的关键。

      SNA5000X-E具备时域分析功能（TDA），能对器件的时域特性进行分析。时域反射计（TDR）功能可进行故障点定位，还可以方便地消除部分特定类型的失配对频域测量的影响，得到排除故障后的预期频域特性，便于分析故障对器件特性的影响。

TDA功能

TDR功能

      SNA5000X-E还搭载了眼图功能，为需要对高速信号进行时域分析、高速信号完整性分析的客户节省了大量成本和时间。

眼图功能

3、智能化操作，让效率与精度并存

      SNA5000X-E系列具备12.1英寸触摸屏，支持多窗口显示，工程师可同时观察多个S参数，数据对比一目了然。同时，SNA5000X-E也支持包括群时延、史密斯图等多种数据显示格式，支持高频测量与滤波器特性一键分析，快速获取插入损耗、带宽等关键指标，还支持公式输入功能，让每一次测试都更便捷。

      此外，其远程控制接口（SCPI指令、WebServer）深度适配自动化产线需求。用户在远程实现参数配置、数据采集与报告生成的全程自动化，显著提升产能一致性。

4、回归基础测试本身，拥抱更高

      SNA5000X-E具备优异的测试测量性能，并具有智能化操作，是一款高效、可靠的矢量网络分析仪，可为工程师、研发团队及生产线提供从研发验证到批量质检的一站式解决方案。